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致茂Chroma 58212-C LED電性測試系統

主要特色：

• 高速高精度
• 橫向、垂直和倒裝芯片
• 寬功率測試范圍(高達200 V/2A)
• 高達8英寸的晶片
• Chroma巨型光電探測器
• *邊緣傳感器
• 探針頭
• 魯棒Z軸級
• 晶片映射算法
• 外遮光罩
• 分析工具和統計報告

測試項目

• 電參數：
  -正向電壓測量(VF)
  -反向擊穿電壓測量(VRB)
  -反向泄漏電流
  -SCR檢測
• 光學參數：
  光功率(mW，lm，mcd)
  -主導波長(WD)
  -峰值波長(WP)
  -半高寬(半高寬)
  -CIExy-CCT-CRI

Chroma 58212-C具有自動LED晶片/芯片探針測試儀，提供快速和準確的LED測量，測試次數少于125 ms*1。

該系統可以修改，以支持不同的LED結構，包括橫向，垂直，和倒裝芯片設計。集成掃描儀提供獨立的晶片映射，以保證精確測試。探頭頭防止設備劃傷，并確保與每個LED固體接觸。

Chroma*的設計獲得并分析了光學數據，如主導波長、峰值波長和CCT。此外，它還提供了基本的電氣數據，如正向電壓、泄漏電流和反向擊穿電壓，都是在一步測試中完成的。

58212-C包括一個用戶友好的圖形界面和*邏輯算法，以顯著提高生產效率.綜合統計報告和分析工具便于控制和批量生產管理。

注：1：試驗條件：在300μm樣品瀝青下，5個電測試參數和1個光學參數。由于LED特性的不同，測量結果可能會有所不同。

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致茂Chroma 58212-C LED電性測試系統